-
光學數碼顯微鏡DSX510
2019-01-30
舒適的操作性能，傳統顯微鏡*。DSX系列并非操作顯微鏡本身，而是通過直觀、易懂的GUI畫面菜單進行操作。可根據用戶熟練程度選擇操作模式，并通過觸摸屏、鼠標、操縱桿等的全新操作方式，實現了舒適的操作性能。無論是具備顯微鏡方面的知識和技能的操作人員，還是對顯微鏡不熟悉的操作人員，都能直觀的完成操作。用于不同熟練度和用途的3個操作模式在DSX系列上，根據用戶的熟練程度，優化設計了2個GUI的操作模式："標準模式"和"初級模式"。同時，還配置了可以自定義標準模式，專門用于常規工作的"...
-
激光共聚焦顯微鏡OLS4100
2019-01-30
的測量更大的樣品范圍輕松檢測85°尖銳角有尖銳角的樣品（剃刀）采用了有著高N.A.的物鏡和光學系統（能大限度發揮405nm激光性能），LEXTOLS4100可以地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測量。LEXT物鏡使用物鏡時的小象差高度分辨率10nm，輕松測量微小輪廓(MPLAPON50XLEXT)高度差標準類型B,PTB-5,InstitutfürMikroelektronik,Germany,6nm高度測量中的檢測由于采用405nm的短波長激光和更高數...
-
OLYMPUS DP74攝像頭高清工業相機
2019-01-30
開發的位置導航功能可創建背景地圖，幫助您定位高倍采集圖像在標本內的位置，像GPS定位一樣，增加您的工作便利性。結合軟件新開發的即時手動拼圖功能，輕松實現手動載物臺下實時、快速、連續拼接大圖。DP74所采用的型3-CMOS模式使每個像素的信息與三芯片相機一樣，該模式在不提高圖像大小的條件下，獲得了細節更多、色彩還原優異的高分辨圖像。DP74是一款有2070萬像素、顯微鏡的數碼顯微照相裝置。擁有優異的色彩和明晰的細節，每秒可拍攝60幀畫面,擁有異常的靈活性，可以用于各種不同的應用...
-
水滴角測試儀原理
2019-01-26
目前市場上有很多自稱是“水滴角測量儀”的分析儀器，通常這些儀器是將臥式顯微鏡或平整度分析儀增加一個進液裝置后，再采用簡單的量角度軟件（如圓擬合分析工具、橢圓擬合分析工具）進行測量。通過如上描述，用戶就會明顯看出，這樣的儀器只能是基于顯微鏡的一個量測二維條件下的水滴輪廓的角度的工具而已。如上1所述，水滴角值是表征固體材料物理化學性質值，這個值屬于物理化學領域。且由于如下固體材料客觀存在的原因：（1）表面粗糙度：導致各視角條件下角度可能有不同；（2）化學多樣性：比如生銹的鐵銹位置...
-
選購水滴角的注意事項
2019-01-26
水滴角或水接觸角的測試主要注意點包括：（1）水的純度或清潔度一定要有保證。通常而言，建議測試水滴接觸角值時采用二次蒸餾水更好。（2）盡量保證室溫的穩定性。*，水的表面張力值受溫度影響而有變化。但對于超疏水或超親水表面時，接觸角值事實影響并非很大，約在2度之內。（3）測試水滴角前，一定要作進液系統及水的清潔度的判斷。方法為，測試之前，采用基于ADSA－RealDrop算法的Young-Laplace方程擬合法對水的表面張力值進行測試。ADSA-RealDrop法由于不受針頭直徑...
-
北京品智創思臺階儀特點
2019-01-26
臺階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器。根據使用傳感器的不同，接觸式臺階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測量原理是：當觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時，還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號經測量電橋后，輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調幅信號。經放大與相敏整流后，可將位移信號從調幅信號中解調出來，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號。再經噪音濾波器、波度濾波器進一步濾去調制頻率與外界干擾信號...
-
電池充電放電測試系統
2019-01-26
設備型號PZ-M50A/400V輸出通道1通道1柜，共1柜接口與訊通過485與PC機通訊，可通過U口或串口連接，一臺PC機可控制200工作模式恒壓充電、恒流充電、恒流定終止電壓檢時放電、恒流定時檢壓放電、恒功率放電、恒電阻放電、靜置、暫停、循環運行方式，設置多階段程序時運行方式可以自由組合階段切換條件時間、電壓、安時實時顯示電流、電壓、時間、階段、模式、Ah、Wh、單體電壓操作模式1.階段數目、電流、電壓等參數可以在額定范圍內自行設置；2.程序設置終止條件時，不必逐項都填寫，...
-
晶圓表面張力接觸角表面能分析檢測測量系統
2019-01-26
晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統詳情：晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統適用于半導體晶圓（Wafer）工藝的質量控制。該視頻成像(VCA-Wafer)晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統提供晶圓（Wafers）表面的快速并準確的接觸角/表面能分析，從而評估粘性，潔凈度及鍍膜。晶圓表面分析檢測測量系統、晶圓表面張力分析系統采用輕量化的設計、組裝方便的基于Windows™標準的用戶友好型...
當前位置：
